Mchama wa VIP
Kijapani Solar Capacitive Tester HIOKI3504-50
Mtaalamu wa kutoa vifaa vya vifaa vya Kijapani Hioki 3504-50 vifaa vya vifaa vya vifaa vya vifaa vya vifaa vya vifaa vya vifaa vya vifaa vya vifaa vya
Tafsiri za uzalishaji
Vifaa vya kitaalamu na mipango ya mtihani - JETYOO INDUSTRIAL & JETYOO INSTRUMENTS, kwa ajili ya awali Agilent [sasa ni de KEYSIGHT] bidhaa msaada wa kiufundi wa uhandisi - KEYJET na KEITHLEY [sasa Tektronix] bidhaa msaada wa kiufundi wa uhandisi - Yoo Yoo wameanzishwa mwaka 2011Matumizi ya Teknolojiakampuni ya biashara ya wakala,Kuzingatia viwanda vipimo sekta ya miaka kumi na sitaKujenga mpya ya zamani! Kujaza vifaa vya vifaa vya kuagiza wazalishaji wengi tu katika hatua ya mauzo ya ndani, lakini msaada wa kiufundi ni dhaifu au hakuna, wakati wafanyabiashara wakala pia ni maalum kwa ajili ya mauzo tu, si kitaalamu kufanya kabla ya mauzo ya kiufundi jibu / mtihani mpango, si kitaalamu kufanya baada ya mauzo ya matumizi ya mafunzo / matengenezo ya kupima utupu.
Kijapani Solar Capacitive Tester HIOKI3504-50Kulingana na madhumuni ya kupima, mifano tofauti ina tofauti probe / mtihani fixture chaguzi
SMD kupima vifaa 9699, kwa ajili ya chini ya SMD DC ~ 120MHz na electrode, mtihani sampuli Ukubwa: upana 1.0 ~ 4.0mm, juu chini ya 1.5mm
SMD kupima vifaa 9677, kwa ajili ya upande wa SMD DC ~ 120MHz na electrode, mtihani sampuli Ukubwa: 3.5mm ± 0.5mm
SMD mtihani vifaa 9263, moja kwa moja kuunganisha aina, DC ~ 5 MHz mtihani ukubwa: 1mm ~ 10.0mm
Vifaa vya kupima 9262, DC～8 MHz, Muunganisho wa moja kwa moja
Vipimo vifaa 9261 cable kuunganisha aina, DC ~ 5 MHz, 1m urefu
Pin-mfano probe L2001, line urefu 73cm, DC ~ 8MHz, 50Ω, mbele mwisho electrode mpango: 0.3 ~ 6mm (IM9901: JIS ukubwa 1608 ~ 5750) (IM9902: JIS ukubwa 0603 ~ 5750)
4 terminal mtihani probe 9140, DC ~ 100kHz, urefu wa 1m
SMD kupima vifaa 9677, kwa ajili ya upande wa SMD DC ~ 120MHz na electrode, mtihani sampuli Ukubwa: 3.5mm ± 0.5mm
SMD mtihani vifaa 9263, moja kwa moja kuunganisha aina, DC ~ 5 MHz mtihani ukubwa: 1mm ~ 10.0mm
Vifaa vya kupima 9262, DC～8 MHz, Muunganisho wa moja kwa moja
Vipimo vifaa 9261 cable kuunganisha aina, DC ~ 5 MHz, 1m urefu
Pin-mfano probe L2001, line urefu 73cm, DC ~ 8MHz, 50Ω, mbele mwisho electrode mpango: 0.3 ~ 6mm (IM9901: JIS ukubwa 1608 ~ 5750) (IM9902: JIS ukubwa 0603 ~ 5750)
4 terminal mtihani probe 9140, DC ~ 100kHz, urefu wa 1m
Kijapani Solar Capacitive Tester HIOKI3504-50vigezo msingi
Vipimo vigezo Cs, Cp (capacitive), D (kiwango cha hasara tanδ)
kipimo mbalimbali C:0.9400pF～20.0000mF，D:0.00001～1.99000
Usahihi wa msingi C: ± 0.09% rdg. ± 10 dgt., D: ± 0.0016, usahihi wa kupima = usahihi wa msingi × B × C × D × E, B ~ E kwa kila kiwango
Frequency ya kupima 120Hz, 1kHz
Kupima kiwango cha ishara Hali ya shinikizo la kudumu: 100mV (3504-60 tu), 500 mV, 1 V
Kipimo mbalimbali:
CV 100mV: ~ 170μF kipimo (kipimo mzunguko 1kHz), ~ 1.45mF kipimo (kipimo mzunguko 120Hz)
CV 500mV: ~ 170μF kipimo (kipimo mzunguko 1kHz), ~ 1.45mF kipimo (kipimo mzunguko 120Hz)
CV 1V: ~ 70μF kipimo (kipimo mzunguko 1kHz), ~ 700μF kipimo (kipimo mzunguko 120Hz)
Upinzani wa pato 5Ω (wakati hali ya voltage ya terminal ya mzunguko wa wazi nje ya kipimo cha CV)
Onyesha Light-emitting chubu cha pili (6 bit inaonyesha, full-scale calculator kulingana na kiwango)
Muda wa kupima Thamani ya kawaida: 2.0 ms (1 kHz, FAST) Muda wa kupima hutofautiana kulingana na mzunguko wa kupima, kasi ya kupima
Kazi BIN Classification kupima (isipokuwa 3504-40), trigger synchronous pato, kumbukumbu ya hali ya kupima, kazi ya kulinganisha ya thamani ya kupima, kazi ya wastani, kazi ya uchaguzi wa chini ya C, kazi ya vibration, pembejeo ya pato kwa ajili ya kudhibiti (EXT. I / O), RS-232C interface (kawaida), GP-IB interface (isipokuwa 3504-40)
umeme AC 100 / 120 / 220 / 240V ± 10% (inaweza kuchagua), 50 / 60Hz, max 110VA
Ukubwa na uzito 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
vifaa Power cable × 1, tayari nguvu fuse × 1, maelekezo ya matumizi × 1
Utafiti wa mtandaoni
-
Mawasiliano
-
Kampuni
-
Simu
-
Barua pepe
-
Chat
-
Kodi la Uchunguzi
-
Maudhui
-